Strona główna» Projekty» Projekty krajowe» Badania i ocena wiarygodności nowoczesnych metod pomiaru topografii...

Badania i ocena wiarygodności nowoczesnych metod pomiaru topografii powierzchni w skali mikro i nano

narodowe_centrum_badan_i_rozwoju.jpg         PBS.jpg

W ramach II Programu Badań Stosowanych w ścieżce A realizowany jest projekt ID 209867 pt.
„Badania i ocena wiarygodności nowoczesnych metod pomiaru topografii powierzchni w skali mikro i nano”.
„Research and evaluation of reliability of modern methods of surface topography measurements in micro and nano scale”.
finansowany przez Narodowe Centrum Badan i Rozwoju w ramach umowy Nr PBS2/A6/20/2013

Okres realizacji projektu: 2013-2016

Skład konsorcjum realizującego projekt:
1.    Politechnika Świętokrzyska w Kielcach - koordynator projektu
2.    Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania w Krakowie
3.    Politechnika Poznańska w Poznaniu


W Zakładzie Metrologii Wielkości Geometrycznych Instytutu Zaawansowanych Technologii Wytwarzania realizowany jest projekt nt.:
„Badania i ocena wiarygodności nowoczesnych metod pomiaru topografii powierzchni w skali mikro i nano”.
„Research and evaluation of reliability of modern methods of surface topography measurements in micro and nano scale”.
w ramach umowy nr PBS2/A6/20/2013  z dnia 24.10.2013 r. o wykonanie i finansowanie projektu realizowanego w ramach Programu Badań Stosowanych w ścieżce A
dofinansowanej przez Narodowe Centrum Badań i Rozwoju.

Liderem konsorcjum jest Politechnika Świętokrzyska, która  realizuje projekt w konsorcjum z Instytutem Zaawansowanych Technologii Wytwarzania w Krakowie oraz Politechniką Poznańską.

Kierownikiem projektu jest prof. dr hab. inż. Stanisław Adamczak, dr h.c.
Koszt realizacji projektu 3 447 600 zł.,
w tym koszt realizacji projektu w Instytucie Zaawansowanych Technologii Wytwarzania 1 531 800 zł.
Projekt jest w całości dofinansowywany przez NCBiR.

Okres realizacji 2013-2016
Koordynator Projektu:
Politechnika Świętokrzyska w Kielcach   politechnika_swietokrzyska.jpg
Wydział Mechatroniki i Budowy Maszyn
Katedra  Technologii Mechanicznej i Metrologii
Al. Tysiąclecia Państwa Polskiego 7
25-314 Kielce

Konsorcjanci:
Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzaniaios.jpg
ul. Wrocławska 37a
30-011 Kraków

Politechnika Poznańskapolitechnika_poznanska.jpg
Plac Marii Curie-Skłodowskiej 5
60-965 Poznań

Celem projektu jest oszacowanie różnic w wynikach pomiarów topografii powierzchni w grupach przyrządów stykowych i bezstykowych oraz próba znalezienia i zdefiniowania źródeł powstawania tych różnic. Pozwoli to określić wiarygodność pomiarów wykonywanych różnymi przyrządami oraz różnymi metodami zarówno w praktyce przemysłowej jak i w badaniach naukowych oraz wskazać optymalny dobór metod do różnych zastosowań. Odpowiedni poziom wiarygodności danych pomiarowych uzyskiwanych podczas pomiarów struktury geometrycznej powierzchni jest niezbędny przy weryfikacji hipotez podczas badań naukowych oraz w przemyśle do podejmowania decyzji dotyczących sterowania jakością wyrobów i procesów wytwarzania. Na podstawie zweryfikowanego w projekcie kompleksowego programu badań, obejmującego profilometry stykowe i bezstykowe określone zostaną różnice w wynikach pomiarów i przeprowadzona zostanie analiza możliwych przyczyn otrzymywania różnic w wynikach. W projekcie przewiduje się przeprowadzenie kompleksowego programu badań w zakresie pomiarów profilu pierwotnego i chropowatości, wyznaczania parametrów chropowatości powierzchni oraz wpływu filtracji w poszczególnych etapach przetwarzania sygnału pomiarowego na ostateczne wyniki obliczeń.
Wiedza uzyskana w wyniku projektu pozwoli na dobór najbardziej wiarygodnych metod pomiarowych i urządzeń pomiarowych dla różnych rodzajów powierzchni uzyskiwanych w ramach mikro i nanotechnologii.
Dla badanych przyrządów przeprowadzone zostaną również analizy porównawcze oprogramowania, z wykorzystaniem wzorców programowych, które zostaną zamodelowane w ramach projektu. Raport z wynikami badań zostanie opublikowany w formie przydatnej dla systemów zarządzania jakością, wskazując na optymalny dobór metod do różnych zastosowań oraz określając wiarygodność pomiarów wykonywanych różnymi przyrządami.