Strona główna» Produkty» Profilometr TOPO 01P

Profilometr TOPO 01P

Tagi: Maszyny i urządzenia pomiarowe Profilometr TOPO 01P

Stykowy przyrząd do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni

Profilometr TOPO 01P jest przyrządem przeznaczonym do laboratoryjnych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni, o dużych możliwościach pomiarowych oraz szerokim zakresie analizy wyników pomiarów.

Przeznaczenie

  • pomiary i analiza profili chropowatości i falistości powierzchni oraz profilu pierwotnego
  • pomiary i analiza przestrzenna 3D

 

Elementy Profilometru

  • zespół pomiarowo-sterujący
  • kolumna z płytą granitową 750 x 450 mm
  • zespół przesuwu do pomiarów chropowatości TOPO L50 lub TOPO L120
  • czujniki do pomiaru chropowatości S250, BS250 i BS1000
  • programy pomiarowo-sterujące i analizy w wersjach 2D i 3D
  • komputer z monitorem i drukarką
  • stolik skaningowy do pomiarów 3D
  • wyposażenie dodatkowe


Oprogramowanie

PROGRAM ANALIZY 2D

  • parametry wg aktualnych norm ISO i PN oraz dodatkowo inne - nieznormalizowane
  • programowe filtry profilu Gaussa z korekcją fazy
  • najbardziej rozpowszechnione funkcje i charakterystyczne krzywe
  • statystyka parametrów: XQ, s, Rs, MIN, MAX
  • możliwość wymiarowania zarysów profilu
  • obliczanie pól pod i nad profilem na wybranych odcinkach
  • eksport punktów profilu i parametrów 2D - formaty txt, xls
  • dowolne redagowanie protokołów pomiarowych

 

Analiza przeprowadzana jest dla następujących rodzajów profili:

  • Profil R - wykres chropowatości powierzchni
  • Profil W - wykres falistości powierzchni
  • Profil P - wykres profilu niefiltrowanego powierzchni

 

Parametry 2D:

Wyznaczane dla profili R,W,P zgodnie z PN-EN ISO 4287,
np. dla profilu R:Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr oraz inne: Rz10p, RS, RLo, RLr, RD, RLa, RLq, Rda

Funkcje i charakterystyczne krzywe:

  • krzywe udziału materiału - Abbotta Firestona
  • krzywa gęstości amplitudowej
  • symetryczna krzywa nośności
  • rozkład liczby wierzchołków
  • funkcja autokorelacji
  • funkcja widmowej gęstości mocy

 

PROGRAM ANALIZY PRZESTRZENNEJ 3D

  • rysowanie widoku izometrycznego
  • tworzenie map warstwicowych
  • wyznaczanie parametrów przestrzennych chropowatości, falistości i powierzchni pierwotnej (R,W,P), np. dla powierzchni P: SPp, SPv, SPz, Spa, SPq, SPsk, SPku
  • możliwość wybierania profili do analizy 2D oraz do wymiarowania
  • obliczanie objętości materiału lub ubytku materiału na wybranych obszarach powierzchni płaskiej, walcowej i kulistej
  • obliczanie promieni z wycinków kuli i walca
  • eksport punktów powierzchni i parametrów 3D - formaty txt, xls

 

Dane techniczne

POMIARY 2D

  • zakres pomiarowy:
    • 250 µm - czujniki S250, BS250
    • 1000 µm - czujnik BS1000
  • odcinki pomiarowe:
    • znormalizowane: 0.4; 1.25; 4.0; 12.5; 40 mm
    • dowolne:
      • do 50 mm z TOPO L50
      • do 120 mm z TOPO L120
  • prędkości pomiarowe: 0.1; 0.2; 0.5 mm/s
  • czujniki pomiarowe:
    • indukcyjne - stykowe:
      • G250 - ze ślizgaczem
      • BS250 - bez ślizgacza
      • BS1000 - bez ślizgacza
    • standardowe:
      • ostrze odwzorowujące: diament
      • kąt wierzchołkowy: 90°
      • promień zaokrąglenia: 2 ± 0,5 µm

 

POMIARY PRZESTRZENNE 3D

  • powierzchnia skanowania:
    • 50 x 25 mm z napędem TOPO L50
    • 120 x 25 mm z napędem TOPO L120

 

Wyposażenie dodatkowe

  • stolik:
    • przesuwy w osiach X i Y - 25 mm
    • obrót ± 5° w płaszczyźnie XY
    • poziomowanie w płaszczyznach XZ i YZ
  • stolik skaningowy z układem sterowania - standardowy zakres przesuwu w osi Y 25 mm opcjonalnie do uzgodnienia
  • imadło obrotowe na przegubie kulowym

Galeria

Wyślij zapytanie

rozwiń