Tagi
Profilometr TOPO 01P
Stykowy przyrząd do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni
Profilometr TOPO 01P jest przyrządem przeznaczonym do laboratoryjnych pomiarów struktury geometrycznej powierzchni, o dużych możliwościach pomiarowych oraz szerokim zakresie analizy wyników pomiarów.
Przeznaczenie
- pomiary i analiza profili chropowatości i falistości powierzchni oraz profilu pierwotnego
- pomiary i analiza przestrzenna 3D
Elementy Profilometru
- zespół pomiarowo-sterujący
- kolumna z płytą granitową 750 x 450 mm
- zespół przesuwu do pomiarów chropowatości TOPO L50 lub TOPO L120
- czujniki do pomiaru chropowatości S250, BS250 i BS1000
- programy pomiarowo-sterujące i analizy w wersjach 2D i 3D
- komputer z monitorem i drukarką
- stolik skaningowy do pomiarów 3D
- wyposażenie dodatkowe
Oprogramowanie
PROGRAM ANALIZY 2D
- parametry wg aktualnych norm ISO i PN oraz dodatkowo inne - nieznormalizowane
- programowe filtry profilu Gaussa z korekcją fazy
- najbardziej rozpowszechnione funkcje i charakterystyczne krzywe
- statystyka parametrów: XQ, s, Rs, MIN, MAX
- możliwość wymiarowania zarysów profilu
- obliczanie pól pod i nad profilem na wybranych odcinkach
- eksport punktów profilu i parametrów 2D - formaty txt, xls
- dowolne redagowanie protokołów pomiarowych
Analiza przeprowadzana jest dla następujących rodzajów profili:
- Profil R - wykres chropowatości powierzchni
- Profil W - wykres falistości powierzchni
- Profil P - wykres profilu niefiltrowanego powierzchni
Parametry 2D:
Wyznaczane dla profili R,W,P zgodnie z PN-EN ISO 4287,
np. dla profilu R:Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr oraz inne: Rz10p, RS, RLo, RLr, RD, RLa, RLq, Rda
Funkcje i charakterystyczne krzywe:
- krzywe udziału materiału - Abbotta Firestona
- krzywa gęstości amplitudowej
- symetryczna krzywa nośności
- rozkład liczby wierzchołków
- funkcja autokorelacji
- funkcja widmowej gęstości mocy
PROGRAM ANALIZY PRZESTRZENNEJ 3D
- rysowanie widoku izometrycznego
- tworzenie map warstwicowych
- wyznaczanie parametrów przestrzennych chropowatości, falistości i powierzchni pierwotnej (R,W,P), np. dla powierzchni P: SPp, SPv, SPz, Spa, SPq, SPsk, SPku
- możliwość wybierania profili do analizy 2D oraz do wymiarowania
- obliczanie objętości materiału lub ubytku materiału na wybranych obszarach powierzchni płaskiej, walcowej i kulistej
- obliczanie promieni z wycinków kuli i walca
- eksport punktów powierzchni i parametrów 3D - formaty txt, xls
Dane techniczne
POMIARY 2D
- zakres pomiarowy:
- 250 µm - czujniki S250, BS250
- 1000 µm - czujnik BS1000
- odcinki pomiarowe:
- znormalizowane: 0.4; 1.25; 4.0; 12.5; 40 mm
- dowolne:
- do 50 mm z TOPO L50
- do 120 mm z TOPO L120
- prędkości pomiarowe: 0.1; 0.2; 0.5 mm/s
- czujniki pomiarowe:
- indukcyjne - stykowe:
- G250 - ze ślizgaczem
- BS250 - bez ślizgacza
- BS1000 - bez ślizgacza
- standardowe:
- ostrze odwzorowujące: diament
- kąt wierzchołkowy: 90°
- promień zaokrąglenia: 2 ± 0,5 µm
- indukcyjne - stykowe:
POMIARY PRZESTRZENNE 3D
- powierzchnia skanowania:
- 50 x 25 mm z napędem TOPO L50
- 120 x 25 mm z napędem TOPO L120
Wyposażenie dodatkowe
- stolik:
- przesuwy w osiach X i Y - 25 mm
- obrót ± 5° w płaszczyźnie XY
- poziomowanie w płaszczyznach XZ i YZ
- stolik skaningowy z układem sterowania - standardowy zakres przesuwu w osi Y 25 mm opcjonalnie do uzgodnienia
- imadło obrotowe na przegubie kulowym






