Strona główna» Usługi» Badania materiałów» Rentgenowska analiza strukturalna materiałów

Rentgenowska analiza strukturalna materiałów

Laboratorium Instytutu Zaawansowanych Technologii Wytwarzania jest wyposażone w dyfraktometr rentgenowski Empyrean firmy PANalytical z pełnym pakietem oprogramowania. Urządzenie to pozwala na analizę strukturalną materiałów makro-, mikro-, nanokrystalicznych i amorficznych, cienkich warstw, proszków, materiałów litych.

Możliwości badawcze

  • jakościowa rentgenowska analiza fazowa

  • ilościowa rentgenowska analiza fazowa

  • pomiar tekstury

  • analiza naprężeń

  • analiza Rietvelda

  • pomiary temperaturowe.


Wyposażenie

  • ceramiczna lampa rentgenowska (anody – Cu, Co, Mo)

  • detektory: PIXcel3D, detektor proporcjonalny

  • 4 rodzaje stolików: stacjonarny stolik do pomiaru płaskich próbek; transmisyjno-odbiciowy stolik z możliwością rotacji próbek (materiały proszkowe oraz materiały lite); stolik 3-osiowy (Chi-Phi-Z) do pomiarów naprężeń i tekstury; stolik 5-osiowy (Chi-Phi-XYZ) do pomiarów reflektometrycznych, naprężeń i tekstury

  • komora wysokotemperaturowa Anton Paar HTK 16N do analizy rentgenowskiej in-situ w zakresie temperatur do 1500°C

  • komora wysokotemperaturowa Anton Paar HTK 2000N z możliwością grzania w zakresie temperatur 25–2300°C, pomiary wykonywane w warunkach próżni.


Oprogramowanie

  • High Score Plus

  • Stress Plus

  • Texture

  • PDF-4+(ICDD).

Do pobrania

Adobe Acrobat Document karta katalogowa pdf [198.50 KB]