Przeznaczenie

• pomiary i analiza profili chropowatości i falistości powierzchni oraz profilu pierwotnego
• pomiary zarysu kształtu i jego wymiarowanie
• pomiary i analiza przestrzenna 3D chropowatości, falistości i kształtu

Elementy systemu

• zespół pomiarowo-sterujący
• kolumna z płytą granitową 750 x 450 mm
• zespół przesuwu do pomiarów chropowatości TOPO L50 lub TOPO L120
• zespół przesuwu do pomiarów kształtu TOPO L200 lub TOPO L120
• czujniki do pomiaru chropowatości: S250, BS250, BS1000
• czujnik do pomiaru kształtu PG40
• komputer z monitorem i drukarką
• programy pomiarowo-sterujące i analizy dla chropowatości i kształtu w wersjach 2D i 3D
• stolik skaningowy do pomiarów 3D
• wyposażenie dodatkowe

Oprogramowanie

Program analizy profilu 2D

• parametry wg aktualnych norm ISO i PN oraz dodatkowo inne - nieznormalizowane
• programowe filtry profilu Gaussa z korekcją fazy
• najbardziej rozpowszechnione funkcje i charakterystyczne krzywe
• statystyka parametrów: XQ, s, Rs, MIN, MAX
• możliwość wymiarowania zarysów profilu
• obliczanie pól pod i nad profilem na wybranych odcinkach
• eksport punktów profilu i parametrów 2D - formaty txt, xls
• dowolne redagowanie protokołów pomiarowych

Analiza przeprowadzana jest dla następujących rodzajów profilu:

• Profil R - profil chropowatości powierzchni
• Profil W - profil falistości powierzchni
• Profil P - profil pierwotny powierzchni

Program analizy zarysu kształtu 2D

• wymiarowanie odległości punktów z pomiaru oraz punktów wyznaczanych analitycznie, np. środków okręgów, punktów przecięcia prostych itp.
• wyznaczanie prostych i okręgów wg różnych algorytmów, np. prostych równoległych, prostopadłych, stycznych, okręgów średniokwadratowych, stycznych itp.
• wyznaczanie kątów
• wyznaczanie promieni i odchyłek od promienia z wycinka okręgu
• obliczanie pól pod i nad profilem z wybranych odcinków
• automatyczne wymiarowanie zarysów kształtu jednakowych elementów
• eksport punktów zarysu kształtu - formaty txt,xls
• dowolne redagowanie protokołów pomiarowych i wybór parametrów edycji okienek ekranów

Program analizy przestrzennej 3D

• rysowanie widoku izometrycznego
• tworzenie map warstwicowych
• wyznaczanie parametrów przestrzennych chropowatości, falistości i powierzchni pierwotnej (R,W,P), np. dla powierzchni P: SPp, SPv, SPz, Spa, SPq, SPsk, SPku
• możliwość wybierania profili do analizy 2D oraz do wymiarowania
• obliczanie objętości materiału lub ubytku materiału na wybranych obszarach powierzchni płaskiej, walcowej i kulistej
• obliczanie promieni z wycinków kuli i walca
• eksport punktów powierzchni i parametrów 3D - formaty txt, xls

Dane techniczne systemu TOPO 01

Pomiar chropowatości 2D

• zakres pomiarowy czujników:
  • 250 µm - czujniki S250, BS250
  • 1000 µm - czujnik BS1000
• odcinki pomiarowe: znormalizowane dowolne
  •  0,4; 1,25; 4,0; 12,5; 40 mm
  • do 50 mm z TOPO L50
• prędkości pomiarowe: 0,1; 0,2; 0,5 mm/s
• prędkości pomiarowe: 0,1; 0,2; 0,5 mm/s
• czujniki pomiarowe:
  • indukcyjne - stykowe:
    • S250 - ze ślizgaczem
    • BS250 - bez ślizgacza
    • BS1000 - bez ślizgacza
  • standardowe:
    • ostrze odwzorowujące: diament
    • kąt wierzchołkowy: 90°
    • promień zaokrąglenia: ± 0,5 µm

Pomiary kształtu 2D

• zakres pomiarowy czujnika: 40 mm
• długość trasy pomiarowej: max. 200 mm
• prędkości pomiarowe: 0,1 do 2 mm/s
• ostrze odwzorowujące:
  • węglik: 0,1 do 2 mm/s
  • łopatka:
    • kąt ostrza: 11°
    • promień zaokrąglenia ostrza: ok. 30 µm
  • stożek:
    • promień zaokrąglenia ostrza: ok. 100 µm
    • kąt wierzchołkowy: 30°

Pomiary przestrzenne 3D

• powierzchnia skanowania:
  • 50 x 25 mm z napędem TOPO L50
  • 120 x 25 mm z napędem TOPO L120
  • 200 x 25 mm z napędem TOPO L200

Wyposażenie dodatkowe

• stolik:
  • przesuwy w osiach X i Y - 25 mm
  • obrót ± 5° w płaszczyźnie XY
  • poziomowanie w płaszczyznach XZ i YZ
• stolik skaningowy z układem sterowania - standardowy zakres przesuwu w osi Y 25 mm, opcjonalnie do uzgodnienia
• imadło obrotowe na przegubie kulowym