Strona główna» Produkty» Modułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni TOPO 02

Modułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni TOPO 02

Modułowy system do pomiaru i analizy topografii powierzchni TOPO 02

PROFILOMETR I  KSZTAŁTOGRAF

Modułowy system TOPO 02 umożliwia kompletowanie stanowisk do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni, w zależności od potrzeb i wymagań użytkowników. Z modułów systemu można tworzyć dedykowane konfiguracje przyrządów przeznaczonych do pomiarów:
chropowatości, falistości i profilu pierwotnego lub kształtu.

Przeznaczenie

  • pomiary i analiza profili chropowatości i falistości powierzchni oraz profilu pierwotnego
  • pomiary zarysu kształtu i jego wymiarowanie
  • pomiary i analiza przestrzenna 3D chropowatości, falistości i kształtu

Elementy Systemu

  • zespół pomiarowo-sterujący topo2
  • kolumna z płytą granitową 750 x 500 mm
  • zespół przesuwu do pomiarów chropowatości i kształtu topo L120D
  • czujniki do pomiaru chropowatości  BS1, BS2
  • czujnik do pomiaru kształtu D50
  • komputer z monitorem i drukarką
  • programy pomiarowo-sterujące i analizy dla chropowatości i kształtu w wersjach 2D i 3D
  • stolik skaningowy do pomiarów 3D
  • wyposażenie dodatkowe

Parametry techniczne systemu TOPO 02

Pomiar Chropowatości:

  • zakres pomiarowy w osi X: 120 mm
  • system pomiaru w osi Z: przetwornik indukcyjny
  • zakres pomiarowy w osi Z: BS1 – 1000 µm, BS2 – 2000 µm
  • rozdzielczość: 0,001 µm

 

Pomiar Kształtu:

  • zakres pomiarowy w osi X: 120 mm
  • system pomiaru w osi X:  cyfrowy liniał optoelektroniczy / rozdzielczość 0,2 µm
  • zakres pomiarowy w osi Z: 50 mm
  • system pomiaru w osi Z: głowica cyfrowa D50 / rozdzielczość     0,1 µm
  • ostrze łopatka: ; kąt ostrza 11°, promień ostrza R=25 µm; odwzorowanie kątów (wejścia/zejścia) max. 77°/88°
  • ostrze stożek: kąt wierzchołkowy stożka 30°, promień ostrza R=100 µm ; odwzorowanie kątów (wejścia/zejścia) max. 73°/73°

 

Zakres przesuwu w osi pionowej (oś H) 500 mm

Pomiary topografii powierzchni 3D:

  • powierzchnia skanowania: 120 (oś X) x 25 mm (oś Y) - standardowo , opcjonalnie więcej, 
    w zależności od oczekiwanego zakresu i dokładności

Program analizy profilu 2D

  • parametry wg aktualnych norm ISO i PN oraz dodatkowo inne - nieznormalizowane
  • programowe filtry profilu Gaussa z korekcją fazy
  • wybrane filtry zgodne z serią norm ISO 16610
  • najbardziej rozpowszechnione funkcje i charakterystyczne krzywe
  • statystyka parametrów: XQ, s, Rs, MIN, MAX
  • możliwość wymiarowania zarysów profilu
  • obliczanie pól pod i nad profilem na wybranych odcinkach
  • eksport punktów profilu i parametrów 2D  formaty txt, xls

    Analiza przeprowadzana jest dla następujących rodzajów profilu:
    Profil R - profil chropowatości powierzchni
    Profil W - profil falistości powierzchni
    Profil P - profil pierwotny powierzchni

 

Na podstawie analizy parametrów, wyznaczanych funkcji i rozkładów możliwa jest analiza wpływu parametrów technologicznych procesów stosowanych w czasie obróbki na własności tribologiczne powierzchni podczas jej eksploatacji.

Program analizy zarysu kształtu 2D

  • wymiarowanie odległości punktów z pomiaru oraz punktów wyznaczanych analitycznienp. środków okręgów, punktów przecięcia prostych itp.
  • wyznaczanie prostych i okręgów wg różnych algorytmów, np. prostych równoległych, prostopadłych, stycznych, okręgów średniokwadratowych, stycznych itp.
  • wyznaczanie kątów
  • wyznaczanie promieni i odchyłek od promienia z wycinka okręgu
  • obliczanie pól pod i nad profilem z wybranych odcinków
  • automatyczne wymiarowanie zarysów kształtu jednakowych elementów
  • eksport punktów zarysu kształtu - formaty txt, xls
  • dowolne redagowanie protokołów pomiarowych i wybór parametrów edycji okienek ekranów

Program analizy przestrzennej 3D

  • rysowanie widoku izometrycznego
  • tworzenie map warstwicowych
  • wyznaczanie parametrów przestrzennych chropowatości, falistości i powierzchni pierwotnej (R,W,P)
  • możliwość wybierania profili do analizy 2D oraz do wymiarowania
  • obliczanie objętości materiału lub ubytku materiału na wybranych obszarach powierzchni płaskiej, walcowej i kulistej
  • obliczanie promieni z wycinków kuli i walca
  • eksport punktów powierzchni i parametrów 3D - formaty txt, xls

Pomiary przestrzenne 3D

Pomiary 3D wykonywane są metodą skanowania kolejnych przekrojów, z zastosowaniem precyzyjnego stolika przemieszczającego mierzoną powierzchnię pod ostrzem pomiarowym. Powierzchnia skanowania: max. 120 x 25 mm

Wyposażenie dodatkowe

  • stolik ustawczy:
    • przesuwy w osiach X i Y - 25 mm
    • obrót ± 5° w płaszczyźnie XY
    • poziomowanie w płaszczyznach XZ i YZ
  • stolik skaningowy z układem sterowania - standardowy zakres przesuwu w osi Y 25 mm możliwość zwiększenia obszaru skanowania w osi Y  do uzgodnienia
  • imadło obrotowe na przegubie kulowym

Informacje dodatkowe

Projekt współfinansowany przez Unię Europejską
w ramach Małopolskiego Regionalnego Programu Operacyjnego na lata 2007 -2013
„Fundusze Europejskie dla Małopolski”
Oś Priorytetowa II: Gospodarka regionalnej szansy
Działanie 2.2: „Wsparcie komercjalizacji badań naukowych”
Projekty badawcze nr umowy MRPO.02.02.01-12-1-0012-1-11

UE

Do pobrania

Adobe Acrobat Document karta katalogowa pdf [1.51 MB]
Adobe Acrobat Document stolik ustawczy SP-02 pdf [108.71 KB]
Adobe Acrobat Document stół labolatoryjny pdf [265.99 KB]

Galeria

Wyślij zapytanie

rozwiń