Badania mikrostruktury, składu chemicznego i fazowego materiałów (SEM, EDS, WDS, EBSD)
Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania posiada skaningowy mikroskop elektronowy JSM 6460LV firmy Jeol. Za pomocą tego mikroskopu możemy wykonywać akredytowane badania makro- i mikrostruktur oraz morfologii materiałów, w tym kompozytowych. Obserwacje można prowadzić zarówno w wysokiej, jak i obniżonej próżni, dlatego badaniu można poddawać także próbki z materiałów nieprzewodzących. Komora urządzenia pozwala na umieszczenie w niej próbek o średnicy maks.152 mm i masie do 2 kg.
Mikroskop wyposażony jest w zestaw spektrometrów rentgenowskich firmy Oxford Instruments:
-
EDS – spektrometr z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego INCA X-act Energy 350
-
WDS – spektrometr rentgenowski z dyspersją długości fali INCA Wave, pozwalający na przeprowadzenie mikroanalizy jakościowej i ilościowej pierwiastków, od boru (B) do uranu (U)
-
EBSD – system dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych INCA Crystal, do sporządzania zapisów dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych, dzięki czemu możliwe są badania mikrostruktury, mikrotekstury oraz wielkości ziaren badanych materiałów, a także określanie ich składu fazowego.
![]() |
![]() |
![]() |
Obraz SEM próbki | Spektrum pierwiastków obecnych na powierzchni próbki | Procentowa zawartość poszczególnych pierwiastków na powierzchni próbki |
![]() |
Mapa rozkładu poszczególnych pierwiastków na powierzchni próbki |
![]() |
Mapa jakości dyfrakcji oraz wynik analizy próbki przeprowadzony przy użyciu systemu EBSD |
Do pobrania
![]() |
[266.90 KB] |