Strona główna» Usługi» Badania materiałów» Badania mikrostruktury, składu chemicznego i fazowego materiałów (SEM,...

Badania mikrostruktury, składu chemicznego i fazowego materiałów (SEM, EDS, WDS, EBSD)

Badania mikrostruktury SEMInstytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania posiada skaningowy mikroskop elektronowy JSM 6460LV firmy Jeol. Za pomocą tego mikroskopu możemy wykonywać akredytowane badania makro- i mikrostruktur oraz morfologii materiałów, w tym kompozytowych. Obserwacje można prowadzić zarówno w wysokiej, jak i obniżonej próżni, dlatego badaniu można poddawać także próbki z materiałów nieprzewodzących. Komora urządzenia pozwala na umieszczenie w niej próbek o średnicy maks.152 mm i masie do 2 kg.

 

 

 

 

Mikroskop wyposażony jest w zestaw spektrometrów rentgenowskich firmy Oxford Instruments:

  • EDS – spektrometr z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego INCA X-act Energy 350

  • WDS – spektrometr rentgenowski z dyspersją długości fali INCA Wave, pozwalający na przeprowadzenie mikroanalizy jakościowej i ilościowej pierwiastków, od boru (B) do uranu (U)

  • EBSD – system dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych INCA Crystal, do sporządzania zapisów dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych, dzięki czemu możliwe są badania mikrostruktury, mikrotekstury oraz wielkości ziaren badanych materiałów, a także określanie ich składu fazowego.

obraz_SEM_próbki.jpg spektrum_pierwiastków_1.jpg procentowa_zawartość_pierwiatków_1.jpg
Obraz SEM próbki Spektrum pierwiastków obecnych na powierzchni próbki Procentowa zawartość poszczególnych pierwiastków na powierzchni próbki

 

mapy_rozkładów_pierwiastków.jpg
Mapa rozkładu poszczególnych pierwiastków na powierzchni próbki

 

Badania mikrostruktury SEM
 Mapa jakości dyfrakcji oraz wynik analizy próbki przeprowadzony przy użyciu systemu EBSD

Do pobrania

Adobe Acrobat Document karta katalogowa pdf [266.90 KB]