Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania posiada skaningowy mikroskop elektronowy JSM 6460LV firmy Jeol. Za pomocą tego mikroskopu możemy wykonywać akredytowane badania makro- i mikrostruktur oraz morfologii materiałów, w tym kompozytowych. Obserwacje można prowadzić zarówno w wysokiej, jak i obniżonej próżni, dlatego badaniu można poddawać także próbki z materiałów nieprzewodzących. Komora urządzenia pozwala na umieszczenie w niej próbek o średnicy maks.152 mm i masie do 2 kg.

Mikroskop wyposażony jest w zestaw spektrometrów rentgenowskich firmy Oxford Instruments:

• EDS – spektrometr z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego INCA X-act Energy 350

• WDS – spektrometr rentgenowski z dyspersją długości fali INCA Wave, pozwalający na przeprowadzenie mikroanalizy jakościowej i ilościowej pierwiastków, od boru (B) do uranu (U)

• EBSD – system dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych INCA Crystal, do sporządzania zapisów dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych, dzięki czemu możliwe są badania mikrostruktury, mikrotekstury oraz wielkości ziaren badanych materiałów, a także określanie ich składu fazowego.

Obraz SEM próbki	Spektrum pierwiastków obecnych na powierzchni próbki	Procentowa zawartość poszczególnych pierwiastków na powierzchni próbki

Mapa rozkładu poszczególnych pierwiastków na powierzchni próbki

Mapa jakości dyfrakcji oraz wynik analizy próbki przeprowadzony przy użyciu systemu EBSD